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电路板检测
検出優位超広幅X範囲：一般的な回路基板に対して複数回の高ダイナミック範囲をスキャンする必要はない：同時に各種材料の高度高速全検査を検出することができる：単回スキャンは同時に高度異常を検出することができる。半田異常、デバイス異常などの場合。
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